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Performance-Steigerung für Laserscanner scanCONTROL

Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich die…

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Neues Interferometer zur hochpräzisen Wafer-Dickenmessung

Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie…

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Präziser Long-Range Lasersensor für große Messabstände

Wenn die Einbausituation Messungen mit großem Abstand erfordert, werden Long-Range Lasersensoren von Micro-Epsilon eingesetzt. Das neue Modell optoNCDT 1760-1000 misst auch bei Entfernungen bis 2 m genau und gleichzeitig schnell mit bis zu 7,5 kHz.…

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