Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich die…
Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie…